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測量顯微鏡15JE是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下： 1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽 寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。 2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規(guī)，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。 3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等.
1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽
寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。
2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規(guī)，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等.
| 二、測量顯微鏡15JE儀器的主要技術指標 | |||||||||||||||||||||||
x軸移動測量范圍： 50毫米 |
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三 、測量顯微鏡15JE光學參數(shù)
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四、測量顯微鏡15JE選購件 1.目鏡:20X |
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